日本科學和分析儀器生產(chǎn)商 Horiba 的一份新報告探討了使用尖端增強拉曼光譜 (TERS) 對石墨烯進行表征的問題，并重點介紹了對這種革命性二維材料進行納米級分析的最新進展。

盡管石墨烯具有卓越的導電性，但其集成方面的挑戰(zhàn)減緩了某些應用的進展。不過，隨著半導體二維材料的發(fā)展及其與石墨烯的潛在結合，研究人員現(xiàn)在正在重新審視石墨烯在下一代納米電子學中的作用。此外，氧化石墨烯最初被認為是大規(guī)模生產(chǎn)石墨烯的中間體，但因其功能化和用作非導電層的多功能性而備受關注。

長期以來，拉曼光譜一直是表征石墨烯、氧化石墨烯和其他碳相的首選方法，因為它具有非破壞性，能夠深入了解缺陷、無序、邊緣結構、晶界、摻雜、應變和熱導率。然而，傳統(tǒng)的衍射極限拉曼顯微鏡缺乏研究納米級石墨烯結構所需的超高空間分辨率。

TERS 是一種將原子力顯微鏡 (AFM) 或掃描隧道顯微鏡 (STM) 與拉曼光譜相結合的先進技術，它通過放大探針尖端下納米級區(qū)域的信號，克服了這一限制。這使研究人員能夠以前所未有的細節(jié)分析石墨烯基納米物體。側發(fā)光 TERS 分析等最新進展進一步增強了研究石墨烯在功能電子器件實際操作條件下的行為的能力。

報告強調了 TERS 在石墨烯研究領域日益增長的重要性及其推動納米電子學和材料科學取得新突破的潛力。隨著人們對二維材料的興趣不斷增加，TERS 將成為表征和優(yōu)化石墨烯技術的重要工具。